介電常數(shù)測試儀介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
1.雙擊LCQ_DAT_GET.EXE文件,打開數(shù)據(jù)采集軟件,注意不要被防火墻關(guān)閉加載的組件.
2.首先點擊Power off按鈕，按鈕中字母變?yōu)镻ower on,同時界面中間的一條黑色條變?yōu)闉榧t色時，開始正常工作。選擇串口號，根據(jù)設(shè)備管理器里的端口根據(jù)括號里的COM號來選擇對應(yīng)的串口。
3.點擊TEST LQ按鍵,設(shè)備會自動掃頻測試元器件的電感量,諧振頻率和Q值
4.數(shù)據(jù)的保存：點擊“保存數(shù)據(jù)“按鍵 ，將把所測數(shù)據(jù)保存在RFID_SAVE.txt文件中.可在右下角方框內(nèi)輸入保存文件的目錄,比如:d:\Qtest\ .如果不設(shè)置目錄,則文件保存在與LCQ_DAT_GET.EXE軟件同一目錄下.
5.如果沒有USB驅(qū)動,請安裝CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.If you do not have a USB driver, install CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.